Sumin Park
과정: Combined M.S & Ph.D. Course Student
이메일: smpark@pusan.ac.kr
연구분야; Design of high voltage SiC PiN diodes and super-junction MOSFETs
Dusan Baek
과정: M.S Student
이메일: dsbaek@pusan.ac.kr
연구분야: Reliability Analysis of SiC Power Devices
Seungwan Jung
과정: M.S Student
이메일: jungsw@pusan.ac.kr
연구분야: Reliability analysis of SiC power MOSFET
Geonjin Do
과정: M.S Student
이메일: gjdo@pusan.ac.kr
연구분야: TCAD Simulation modeling
Juhui Kim
과정: M.S Student
이메일: juhui.kim@pusan.ac.kr
연구분야:
Wonyoung Shin
과정: M.S Student
이메일: swy7554@pusan.ac.kr
연구분야:
Jinwoo Park
과정: Combined B.S & M.S Course Student
이메일: jwpark@pusan.ac.kr
연구분야: Comprehensive reliability evaluation and failure mode/mechanism analysis of SiC power semiconductor devices
Subin Choi
과정: Combined B.S & M.S Course Student
이메일: sbchoii@pusan.ac.kr
연구분야: Reliability Enhancement of SiC Power Devices
Gayeong Park
과정: Combined B.S & M.S Course Student
이메일: gypark03@pusan.ac.kr
연구분야:
Seungri Yang
과정: Combined B.S & M.S Course Student
이메일: sryang@pusan.ac.kr
연구분야:
Jonghyeon Ryu
과정: B.S student
이메일: ryujh0511@pusan.ac.kr
연구분야: Improvement reliability of power semiconductor