Surge Tester

장비 개요

본 장비는 전력반도체 소자에 고전류 펄스를 인가하여 Surge 내구성 및 과도 응답 특성을 평가하기 위한 신뢰성 시험 시스템이다. MOSFET 기반 Pulse 스위칭 구조와 전류 제어 드라이버를 이용해 단시간 고전류 스트레스를 인가하며, DUT 소켓 방식으로 다양한 패키지 소자 시험이 가능하다.

특징

• 반복적인 Surge Current 내구성 평가 

• Pulse 전류 응답 특성

• Gate Bias 조건별 동작 분석

측정 가능 시편

• Discrete 패키징 소자 (TO-247-3L 패키지 지원)

동작 환경 및 전기적 사양